薄膜絕緣電弱點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

薄膜絕緣電弱點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)由華測(cè)儀器生產(chǎn)，主要用于電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點(diǎn)測(cè)試，該系列產(chǎn)品的主要特點(diǎn)是能根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測(cè)試，測(cè)試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定，無(wú)須將膜分切成小卷，免除了許多外來(lái)因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。測(cè)試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。具有可靠性、耐用性和穩(wěn)定性，測(cè)試過(guò)程采用電子技術(shù)全自動(dòng)控制，遇到電弱點(diǎn)時(shí)電壓切斷動(dòng)作迅速，擊穿電流在0～40mA連續(xù)可調(diào)，復(fù)現(xiàn)性好。本機(jī)具備多重保護(hù)功能，為操作人員及設(shè)備提供保護(hù)，如過(guò)壓、過(guò)流、接地保護(hù)，試驗(yàn)平臺(tái)門(mén)開(kāi)啟保護(hù)

電弱點(diǎn)測(cè)試儀由PLC、伺服電極、電壓發(fā)生器、工控機(jī)、減速機(jī)、阻尼裝置、壓力裝置等組成，可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

1.TVS瞬間壓制防護(hù)技術(shù)

2.多級(jí)循環(huán)電壓采集技術(shù)

3.低通濾波電流監(jiān)測(cè)技術(shù)

4.雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)及隔離阻攔技術(shù)

產(chǎn)品參數(shù)

1、可放置卷芯長(zhǎng)度：30~1800mm

2、試驗(yàn)電壓精度：≤2%

3、測(cè)試電壓：DC：50V~6kV  AC：50V~5kV

4、電壓精度：2%

5、厚度范圍：450mm

6、產(chǎn)品移動(dòng)速度：3-10m/min 連續(xù)可調(diào)

軟件功能

操作系統(tǒng)：支持XP，win7,win8系統(tǒng)，操作人性化

實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)：在實(shí)驗(yàn)過(guò)程中可以動(dòng)態(tài)顯示電弱點(diǎn)數(shù)量、膜移動(dòng)距離等

數(shù)據(jù)導(dǎo)出：試驗(yàn)結(jié)果方便導(dǎo)出

實(shí)驗(yàn)報(bào)告：自定義報(bào)告名稱，并對(duì)實(shí)驗(yàn)報(bào)告進(jìn)行打印

試驗(yàn)方式：直流試驗(yàn)和交流試驗(yàn)、進(jìn)行選擇

參數(shù)設(shè)置：可以根據(jù)不同的試驗(yàn)方式及試驗(yàn)方法靈活設(shè)置所需的不同參數(shù)值

校準(zhǔn)功能：可針對(duì)設(shè)備進(jìn)行校準(zhǔn)設(shè)置

支持標(biāo)準(zhǔn)：支持國(guó)標(biāo)及IEC標(biāo)準(zhǔn)

警報(bào)功能：軟件具備電壓、電流警報(bào)功能

依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T36294-2018《鋰離子電池用聚烯烴隔膜》

IEC 60674-2:2009《電氣用塑料薄膜 2部分：試驗(yàn)方法》

GB/T13542-2009《電氣用塑料薄膜試驗(yàn)方法》

應(yīng)用領(lǐng)域

鋰離子電池隔膜、聚丙烯薄膜、電容器用聚酯薄膜

公司介紹

Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd. is a national high-tech enterprise, reviated as Hua Ce Instrument.    It is a company engad in research and development, production and manufacturing.    The company has a functional materials electrical laboratory and an electrical insulation materials electrical laboratory.

The products involve material testing instruments, signal amplification and conditioning, data acquisition and control, comprehensive performance evaluation of sensors, etc.