MLCC陣列批量電容溫度特性分析儀

參數(shù)規(guī)格
電容測(cè)量范圍：1pF ~ 1μF
測(cè)量準(zhǔn)度：±0.3%
測(cè)試頻率：固定1kHz
測(cè)試電平：0.1V~0.3V
測(cè)量模式：Cp并聯(lián)電容模式，適配電容測(cè)量特性
設(shè)備配置
主控與測(cè)量單元：搭載LCR電橋模塊，集成對(duì)應(yīng)電容檢測(cè)電路，支持多通道同步掃描，兼顧檢測(cè)速度與測(cè)量準(zhǔn)度；內(nèi)置嵌入式主控，負(fù)責(zé)與上位機(jī)軟件實(shí)時(shí)通信、傳輸采集數(shù)據(jù)。
測(cè)試板：預(yù)留通用接口，支持64/80/128通道測(cè)試線對(duì)接，集成通道切換電路，實(shí)現(xiàn)陣元自動(dòng)掃描；配備防呆結(jié)構(gòu)與靜電防護(hù)電路，既防止測(cè)試線錯(cuò)插，也可規(guī)避靜電擊穿設(shè)備、被測(cè)物的風(fēng)險(xiǎn)。支持多通道測(cè)試線向下兼容。
定制化測(cè)試線：按不同被測(cè)物型號(hào)、通道數(shù)定制，接口與被測(cè)物準(zhǔn)確匹配，采用阻隔線材，減少電磁干擾；每根測(cè)試線標(biāo)注對(duì)應(yīng)被測(cè)物型號(hào)、通道數(shù)，便于分類區(qū)分使用。
測(cè)試夾具與校準(zhǔn)件：配備測(cè)試夾具、開(kāi)短路校準(zhǔn)件，用于減小引線、測(cè)試板的寄生電容誤差；可選配標(biāo)準(zhǔn)電容套裝，用于系統(tǒng)準(zhǔn)度校準(zhǔn)。
電源模塊：交流220V輸入、直流±15V輸出，集成過(guò)載、短路、靜電防護(hù)功能，保障設(shè)備與被測(cè)物檢測(cè)穩(wěn)定。
設(shè)備外殼：采用金屬阻隔殼體，具備EMI阻隔性能，隔絕外界電磁干擾對(duì)測(cè)量準(zhǔn)度的影響；整機(jī)體積適中、便于搬運(yùn)，適配實(shí)驗(yàn)室、生產(chǎn)產(chǎn)線、維修現(xiàn)場(chǎng)多場(chǎng)景使用。
公司介紹
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd.