產品詳情
簡單介紹：
表面電位衰減測試系統是一款面向材料電學特性研究的高準度、多功能分析設備，為評估介質材料表面電荷動態衰減行為及陷阱能級分布而設計，集高壓極化、準確溫控、快速信號采集及智能化分析于一體，支持針、柵、板三種電極配置，可模擬不同溫濕度環境下的材料電荷動態響應，為絕緣材料、功能薄膜、電子器件等領域的研發與質量控制提供數據支持
詳情介紹：
高壓電纜介質電荷衰減分析儀
高壓極化與準確控制
支持±30 kV寬范圍高壓輸出，負載調整率≤0.5%，穩定性≤0.1%/h，確保極化過程穩定可靠
高精度控溫加熱臺（室溫~160℃，±0.2℃），結合濕度可調電極箱體，滿足復雜環境模擬需求
高靈敏測量與快速響應
電位測量范圍達±10 kV，精度1 V，采集頻率＞1次/秒，搭配5~20 ms高速響應，準確捕捉瞬態電位變化
配備采集卡與中文分析軟件，自動提取陷阱分布參數，一鍵生成衰減曲線及分析報告
靈活電極配置與集成化設計
提供銀/黃銅材質針、柵、板電極，電極間隙0~100 mm動態可調，適配不同樣品形態與測試場景
集成化電極箱體整合加熱臺、支架及濕度模塊，大幅提升實驗效率與重復性
高穩定性與防護性
電壓調整率≤0.1%，溫度系數≤0.1%/℃，確保長時間測試數據一致性；輸出電流限定≤1 mA，符合高壓操作防護標準
參數規格
充電電源：±30 kV
加熱臺溫度范圍：室溫~ 160 ℃
控溫精度：± 0.2 ℃
輸入電壓：AC 220 V ±10%，50 HZ
額定輸出電壓：0～+30kV
公司介紹
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd.
