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產(chǎn)品詳情
簡單介紹:
探針臺(tái)是一種輔助執(zhí)行機(jī)構(gòu),把需要測(cè)量的器件放到探針臺(tái)的載物臺(tái)上,配合顯微鏡,X-Y移動(dòng)器件,找到需要探測(cè)的位置;通過旋轉(zhuǎn)探針座上的X-Y-Z的三向旋鈕,控制前部探針(射頻或直流探針),準(zhǔn)確扎到被測(cè)點(diǎn),從而使其訊號(hào)線與外部測(cè)試機(jī)導(dǎo)通,通過測(cè)試機(jī)可以得到所需要的電性能參數(shù)
詳情介紹:
變溫探針臺(tái) 芯片器件高溫點(diǎn)測(cè)
參數(shù)規(guī)格
臺(tái)體參數(shù)
X-Y移動(dòng)精度:1μm
針座平臺(tái):U型針座平臺(tái),可同時(shí)容納2~4個(gè)CB-100探針座同時(shí)點(diǎn)測(cè);帶有鎖定旋鈕夾盤,可以附加單獨(dú)的校準(zhǔn)片載臺(tái)
樣品臺(tái)調(diào)節(jié):平臺(tái)可升降調(diào)節(jié)適合加裝探針卡,便于針卡重定位
顯微鏡參數(shù)
X,Y,Z軸方向調(diào)節(jié)范圍:>50.8mm,調(diào)節(jié)精度小于2μm
工作距離:115mm,加裝2倍輔助鏡工作距離40mm
光源:帶外置LED高亮無極調(diào)節(jié)亮度環(huán)形光源
溫控參數(shù)
溫度范圍:室溫~400℃
分辨率:0.1℃
控溫精度:0.1℃
公司介紹
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd.
