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產(chǎn)品詳情
簡單介紹:
高壓TSDC熱刺激電流測試系統(tǒng)用于預(yù)測EMC的HTRB性能。TSDC方法包括極化過程,在該過程中,電介質(zhì)樣品暴露在高電場強(qiáng)度和高溫環(huán)境下。在這種情況下,電荷被分離并在介電材料電子元件中移動。
詳情介紹:
半導(dǎo)體陷阱特性熱刺激電流系統(tǒng)
源頭工廠支持定制,更多詳情歡迎咨詢
產(chǎn)品簡介高壓TSDC熱刺激電流測試系統(tǒng)用于預(yù)測EMC的HTRB性能。TSDC方法包括極化過程,在該過程中,電介質(zhì)樣品暴露在高電場強(qiáng)度和高溫環(huán)境下。在這種情況下,電荷被分離并在介電材料電子元件中移動。
TSDC是一種研究電荷存儲特性的試驗(yàn)技術(shù),用于確定初始電荷和捕獲電荷的活化能以及弛豫
參數(shù)規(guī)格
溫度范圍:-100~300°C
控溫精度:±0.25°C
升溫斜率:10℃/min(可設(shè)定)
測試頻率:電壓上限:±10kV
加熱方式:空氣加熱
降溫方式:液氮
應(yīng)用領(lǐng)域
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd.
