產品詳情
簡單介紹：
TEC 冷熱臺是基于帕爾貼效應設計的高精度溫控實驗設備，集溫度控制與高透光觀測于一體。
詳情介紹：
半導體芯片溫控帕爾貼冷熱臺
源頭工廠支持定制，更多詳情歡迎咨詢
應用領域材料科學
相變、熱膨脹、熱電性能研究
半導體與電子器件
溫控特性測試
光學與光譜學
拉曼、熒光、紅外光譜原位變溫測試
化學與催化反應
變溫反應過程觀測
教學與工業檢測
溫控環境下的質量檢測
參數規格
載樣臺材質：銅
載樣臺尺寸：40mm×40mm
光路：反射/ 透射 (可選配)
透射光路直徑：Φ2mm (可選配)
腔室：無(開放式)
外形尺寸：73mm×54mm×19mm
公司介紹
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd.
