產品詳情
簡單介紹：
導通電阻測試系統由華測儀器生產制造，可在低高溫交替的溫度循環環境中，采用4端子測試法，對焊點、連接器接點等導體連接部位開展多通道高準度微小電阻連續監測，以此評估電子裝配工藝的規范性及材料本身的連接可靠性。
詳情介紹：
CSP封裝焊點多通道導通電阻系統
源頭工廠支持定制，更多詳情歡迎咨詢
產品優勢抗干擾能力強
不受交流信號的寄生電容、電感、線纜電抗影響，尤其適合長線束、大電流端子、高頻器件測試
貼合實際工況多數產品工作在直流/低頻，直流測量結果與發熱、壓降、功率損耗直接對應，具有工程參考價值
適用范圍廣
可測金屬、焊料、ACF、導電膠、連接器、繼電器、PCB等導電/連接結構，通用性強
穩定易控制
小電流即可實現高準度測量，不易損傷器件、不引發發熱漂移，對芯片、FPC等器件友好
參數規格
分辨率：100μΩ
測量范圍：1×10?3-1×10?Ω
環境箱：適配多種型號
公司介紹
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd.
