溫電耦合集成式檢測｜高電場介電損耗漏電流測試系統(tǒng)助力高壓 MLCC 可靠性質(zhì)控

車載、工業(yè)功率電子設(shè)備對高壓 MLCC 可靠性提出嚴(yán)苛要求，電容器陶瓷介質(zhì)在高壓、高低溫聯(lián)合應(yīng)力下的介電穩(wěn)定性、介質(zhì)損耗、漏電流水平，直接決定整機(jī)濾波性能與長期運行穩(wěn)定。華測儀器 Huace-DF500 高電場介電、損耗、漏電流測試系統(tǒng)，實現(xiàn)高壓電場與寬溫環(huán)境同步加載，一站式完成 MLCC 陶瓷介質(zhì)多方面電學(xué)性能評價，為元器件企業(yè)開展產(chǎn)品可靠性驗證提供有力工具。

在實際工況中，高壓 MLCC 同時面臨高壓偏置與溫度劇烈變化，僅依靠常溫低壓測試，無法復(fù)現(xiàn)真實服役條件，容易造成產(chǎn)品可靠性誤判。傳統(tǒng)方案需要高壓源、漏電流測試儀、介電譜儀、單獨溫箱多臺設(shè)備拼接，樣品多次拆裝，試驗周期長，數(shù)據(jù)基準(zhǔn)難以統(tǒng)一。

Huace-DF500 集成高壓放大單元、鎖相放大采集模塊、程控高低溫試驗箱，可輸出 20kV 交直流高壓，同時實現(xiàn)-80℃~230℃溫度可控。系統(tǒng)兼顧介電頻率響應(yīng)、介質(zhì)損耗、pA 級漏電流同步測量，電流測量誤差≤1%，可準(zhǔn)確識別介質(zhì)早期漏電劣化趨勢；硬件具備完善過流保護(hù)，交流峰值 40mA 條件下 5ms 快速啟動保護(hù)，防止介質(zhì)擊穿造成樣品損毀。

配套 HuacePro 操作軟件，適配 Win10/Win11 操作系統(tǒng)，試驗曲線、原始測試數(shù)據(jù)可完整保存導(dǎo)出，便于開展批次對比、老化試驗數(shù)據(jù)歸檔，滿足元器件可靠性驗證、AEC-Q200 相關(guān)車規(guī)測試的數(shù)據(jù)溯源需求。設(shè)備既可以用于陶瓷介質(zhì)粉體配方迭代、樣機(jī)可靠性摸底，也可用于批次樣品應(yīng)力加速試驗，區(qū)分介質(zhì)本征漏電與弱點誘發(fā)的異常漏電，輔助企業(yè)定位材料、工藝層面的失效誘因。

華測儀器已構(gòu)建起介電溫譜、鐵電分析、電阻率測試、高電場綜合測試完整電介質(zhì)測試產(chǎn)品矩陣。Huace-DF500 高電場介電、損耗、漏電流測試系統(tǒng)的推出，補齊國內(nèi)高壓電介質(zhì)溫電耦合集成式測試裝備短板，助力高壓 MLCC 等功率電子元器件產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展。