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解析溫度-電荷響應(yīng)|華測(cè)儀器熱釋電系數(shù)測(cè)試儀助力鐵電功能材料研究
解析溫度-電荷響應(yīng)|華測(cè)儀器熱釋電系數(shù)測(cè)試儀助力鐵電功能材料研究
鐵電、壓電材料在溫度變化條件下產(chǎn)生熱釋電電荷效應(yīng),熱釋電系數(shù)是評(píng)價(jià)功能材料、熱釋電器件性能的關(guān)鍵參數(shù)。華測(cè)儀器熱釋電系數(shù)測(cè)試儀,面向高校科研院所、功能材料企業(yè),實(shí)現(xiàn)壓電陶瓷、高分子熱釋電薄膜等樣品熱釋電特性與居里溫度集成式測(cè)試。
在熱釋電器件實(shí)際應(yīng)用過(guò)程中,材料熱釋電系數(shù)大小、居里相變點(diǎn),決定器件可用工作溫區(qū)。一旦工作溫度接近居里溫度,自發(fā)極化消失,器件會(huì)直接喪失熱釋電響應(yīng)能力。因此在新材料開(kāi)發(fā)、器件可靠性評(píng)估階段,需要完成寬溫域下熱釋電性能測(cè)試。
本臺(tái)設(shè)備集加溫裝置、測(cè)試夾具、采集系統(tǒng)、分析軟件于一體,摒棄傳統(tǒng)油浴加熱,規(guī)避介質(zhì)電荷帶來(lái)的測(cè)量誤差;可切換量程的高阻計(jì),解決積分電容匹配不當(dāng)造成準(zhǔn)度下降或超量程問(wèn)題。設(shè)備體積小巧,重量約 10kg,便于實(shí)驗(yàn)室擺放使用。測(cè)試過(guò)程自動(dòng)記錄熱釋電時(shí)間譜、溫度譜,直觀反映樣品隨溫度變化的電荷釋放規(guī)律。
除 PZT 壓電陶瓷之外,設(shè)備同樣適配 PVDF 高分子熱釋電薄膜等多種試樣,兼顧基礎(chǔ)機(jī)理研究與配方工藝迭代。華測(cè)儀器現(xiàn)已構(gòu)建鐵電分析、d33 壓電測(cè)試、TSDC 熱刺激電流、熱釋電系數(shù)完整的功能材料測(cè)試矩陣,可為功能材料研發(fā)提供一站式電學(xué)測(cè)試解決方案,推動(dòng)國(guó)內(nèi)熱釋電傳感材料與器件產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展。
