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寬溫多氣氛表征｜HC-RD-1100 塞貝克系數(shù)電阻測試儀支撐能源半導(dǎo)體材料研究
寬溫多氣氛表征｜HC-RD-1100 塞貝克系數(shù)電阻測試儀支撐能源半導(dǎo)體材料研究
半導(dǎo)體、能源陶瓷、固態(tài)電解質(zhì)材料的電輸運(yùn)與熱電效應(yīng)研究，需要獲取不同溫度、不同氣氛環(huán)境下塞貝克系數(shù)和電阻率數(shù)據(jù)。華測儀器 HC-RD-1100 塞貝克系數(shù)電阻測試儀，集成寬溫區(qū)溫控、多氣氛控制、雙參數(shù)同步采集能力，服務(wù)高校與科研院所能源功能材料機(jī)理探究。
很多科研試驗(yàn)需要考察氧化、還原、真空氛圍對材料導(dǎo)電、熱電性能的影響，普通設(shè)備往往溫度上限有限，且無法實(shí)現(xiàn)氣氛可控。HC-RD-1100 可至 1500℃高溫測試，搭配 K/S/C 型熱電偶準(zhǔn)確控溫；一套設(shè)備同時輸出塞貝克系數(shù)、電導(dǎo)率兩組關(guān)鍵數(shù)據(jù)，無需更換多臺儀器，減少樣品拆裝帶來的誤差。
設(shè)備適配半導(dǎo)體氧化物、燃料電池電極、固態(tài)電解質(zhì)、導(dǎo)電陶瓷、高溫合金等多種試樣；軟件功能豐富，支持多點(diǎn)溫度校正、焓變校正、曲線對比分析，原始測試數(shù)據(jù)可直接導(dǎo)出用于繪圖與文章分析，滿足 ASTM E1225 相關(guān)測試規(guī)范。
HC-RD-1100 可與介電溫譜、TSDC 熱刺激電流等設(shè)備搭配使用，形成熱-電多方面綜合表征方案。華測儀器可為科研用戶提供夾具選型、試驗(yàn)方案咨詢等配套支持，為國內(nèi)能源、半導(dǎo)體新材料基礎(chǔ)研究提供國產(chǎn)化測試平臺。
