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模擬污染潮濕工況｜HCLD-2 漏電起痕試驗(yàn)儀服務(wù)汽車電子絕緣材料驗(yàn)證
模擬污染潮濕工況｜HCLD-2 漏電起痕試驗(yàn)儀服務(wù)汽車電子絕緣材料驗(yàn)證
新能源汽車電控、電池模組、車載低壓連接器等零部件，工作環(huán)境復(fù)雜，面臨水汽、鹽霧、粉塵污染，絕緣材料表面易發(fā)生漏電起痕劣化，直接威脅整車電氣穩(wěn)定。華測儀器 HCLD-2 固體絕緣材料漏電起痕試驗(yàn)儀，模擬電場 + 電解液污染耦合工況，完成汽車電子、工業(yè)控制絕緣材料耐電痕性能評價(jià)。
漏電起痕屬于隱蔽的表面絕緣失效，僅做耐壓擊穿測試無法復(fù)現(xiàn)潮濕污染帶來的表面碳化失效。HCLD-2 按照 GB/T4207-2003、ASTM D3638-1993、IEC 60335 標(biāo)準(zhǔn)開展滴定法漏電起痕試驗(yàn)，準(zhǔn)確控制電極幾何參數(shù)、滴液體積與滴液間隔；觸摸屏人機(jī)交互操作簡單，無需人工反復(fù)計(jì)數(shù)，自動(dòng)完成整個(gè)試驗(yàn)流程。
設(shè)備試驗(yàn)艙采用 PC 材質(zhì)，配備排風(fēng)口；多重穩(wěn)定防護(hù)機(jī)制，出現(xiàn)短路、過流條件自動(dòng)終止試驗(yàn)，保護(hù)人員與設(shè)備。可用于車載工程塑料、PCB 基材、半導(dǎo)體封裝絕緣材料的配方比對與來料質(zhì)檢，獲取 CTI、PTI 關(guān)鍵指標(biāo)，為絕緣選材、改性配方迭代提供量化試驗(yàn)依據(jù)。
除硬件設(shè)備外，華測儀器試驗(yàn)室可對外提供漏電起痕上機(jī)共享測試服務(wù)。HCLD-2 可與擊穿試驗(yàn)儀、絕緣電阻率測試設(shè)備配套使用，形成絕緣材料從耐起痕、耐壓到電阻率的完整安規(guī)驗(yàn)證鏈條，服務(wù)新材料企業(yè)研發(fā)、質(zhì)檢與高校科研。
