多路并行自動(dòng)化｜HCMP 多通道介電電阻測(cè)試模塊賦能器件批量性能驗(yàn)證

半導(dǎo)體元器件、新能源傳感器、儲(chǔ)能介質(zhì)材料在研發(fā)與質(zhì)檢階段，需要對(duì)大批量樣品開(kāi)展介電常數(shù)、阻抗、絕緣電阻一致性檢測(cè)。單通道儀器逐個(gè)測(cè)試耗時(shí)久，難以滿(mǎn)足批量試樣比對(duì)、可靠性摸底需求。華測(cè)儀器 HCMP 多通道介電電阻測(cè)試模塊，依托高速繼電器切換技術(shù)，搭建多路并行測(cè)試系統(tǒng)，服務(wù)器件科研試驗(yàn)與工業(yè)質(zhì)量控制。

模塊采用光耦繼電器，切換速度達(dá) 1ms，通道間寄生電容僅 0.2pF，盡可能減少多路切換帶來(lái)的信號(hào)干擾；通道絕緣等級(jí)高，可適配高阻介質(zhì)與中等電壓器件試樣。兼容市面主流 LCR、高阻測(cè)量?jī)x表，企業(yè)、科研院所可復(fù)用實(shí)驗(yàn)室現(xiàn)有測(cè)試主機(jī)，無(wú)需全部更換設(shè)備，降低試驗(yàn)室升級(jí)改造成本。

CN040 多路測(cè)試軟件功能完善：支持單獨(dú)通道參數(shù)配置、開(kāi)短路補(bǔ)償、閾值比較器判定（合格 / 不合格），自動(dòng)按通道保存阻抗、介電、電阻測(cè)試數(shù)據(jù)。既可以用于實(shí)驗(yàn)室科研，完成多組平行樣品同步老化后電學(xué)性能比對(duì)；也可對(duì)接小型工裝夾具，用于電子元器件批量篩檢，快速識(shí)別器件個(gè)體性能離散性。

HCMP 模塊體積輕巧，僅 2.4kg，便于與高溫介電爐、環(huán)境試驗(yàn)箱組合使用，實(shí)現(xiàn)多只樣品同步變溫介電阻抗測(cè)試。可與介電溫譜、TSDC 熱刺激電流等設(shè)備配合，構(gòu)建完整的材料電學(xué)測(cè)試體系。華測(cè)儀器同時(shí)可提供整套測(cè)試方案咨詢(xún)，幫助用戶(hù)快速搭建多通道自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)。