器件電性能變溫探針測定儀

產(chǎn)品介紹

器件電性能變溫探針測定儀是一種輔助執(zhí)行機(jī)構(gòu)，把需要測量的器件放到探針臺的載物臺上，配合顯微鏡，X-Y移動器件，找到需要探測的位置；通過旋轉(zhuǎn)探針座上的X-Y-Z的三向旋鈕，控制前部探針（射頻或直流探針），準(zhǔn)確扎到被測點(diǎn)，從而使其訊號線與外部測試機(jī)導(dǎo)通，通過測試機(jī)可以得

到所需要的電性能參數(shù)

產(chǎn)品參數(shù)

臺體參數(shù)

水平旋轉(zhuǎn)：可360°旋轉(zhuǎn)，可微調(diào)15°，精度0.1°，帶角度鎖死裝置

X-Y移動行程：4英寸*4英寸（卡盤X-Y軸無間隙移動）

X-Y移動精度：1μm

樣品固定：不低于4″卡盤，采用中間吸附孔和多圈吸附環(huán)固定樣品，均單獨(dú)控制，中間吸附孔下限可以選擇250微米

針座平臺：U型針座平臺，可同時(shí)容納2~4個(gè)CB-100探針座同時(shí)點(diǎn)測；帶有鎖定旋鈕夾盤，可以附加單獨(dú)的校準(zhǔn)片載臺

樣品臺調(diào)節(jié)：平臺可升降調(diào)節(jié)適合加裝探針卡，便于針卡重定位

顯微鏡參數(shù)

顯微鏡環(huán)繞立柱旋轉(zhuǎn)式設(shè)計(jì)，便于快速移動顯微鏡，顯微鏡移動范圍覆蓋樣品臺；卡盤可做電極引出信號進(jìn)行雙面測試。

總放大倍率：16倍~100倍

變焦：0.8倍~5倍

CCD：帶CCD接口和0.4XC-mount；下限分辨率至2μm

鏡座：雙目觀察傾斜45°，雙瞳距調(diào)節(jié)范圍：52~75mm，傾斜360°旋轉(zhuǎn)

X,Y,Z軸方向調(diào)節(jié)范圍：＞50.8mm，調(diào)節(jié)精度小于2μm

工作距離：115mm，加裝2倍輔助鏡工作距離40mm

光源：帶外置LED高亮無極調(diào)節(jié)亮度環(huán)形光源

溫控參數(shù)

溫度范圍：室溫~400℃

分辨率：0.1℃

控溫精度：0.1℃

溫度穩(wěn)定性：±1℃

公司簡介

Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd. is a national high-tech enterprise, reviated as Hua Ce Instrument.    It is a company engad in research and development, production and manufacturing.    The company has a functional materials electrical laboratory and an electrical insulation materials electrical laboratory.

The products involve material testing instruments, signal amplification and conditioning, data acquisition and control, comprehensive performance evaluation of sensors, etc.