產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
電子材料測量離子遷移評估系統(tǒng)是一種信賴性試驗設(shè)備，它通過在印刷電路板上施加固定的直流電壓，并經(jīng)過長時間的測試（1~1000小時可按需定制），觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生，并記錄電阻值的變化狀況，從而評估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現(xiàn)象的影響
詳情介紹：
電路板離子遷移絕緣評估系統(tǒng)
產(chǎn)品簡介
離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發(fā)生離子化并在電場作用下通過絕緣層向另一極遷移而導(dǎo)致絕緣性能下降。
絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng)是一種信賴性試驗設(shè)備，它通過在印刷電路板上施加固定的直流電壓，并經(jīng)過長時間的測試（1~1000小時可按需定制），觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生，并記錄電阻值的變化狀況，從而評估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現(xiàn)象的影響
參數(shù)規(guī)格
測量電壓:100 ~ 1500V（可定制）
測試通道:128通道（可定制至960通道）
測試時長:可連續(xù)運行1500小時
極化電壓:100 ~ 1500V（可定制）
掃描周期:至快2分鐘（128通道）
公司介紹
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd.
