產品詳情
簡單介紹：
TEC 冷熱臺是基于帕爾貼效應設計的高精度溫控實驗設備，集溫度控制與高透光觀測于一體。
詳情介紹：
原位光譜采集帕爾貼冷熱臺
源頭工廠支持定制，更多詳情歡迎咨詢
產品優勢控溫性能
溫度范圍-40℃~150℃，溫度穩定性 ±0.1℃，支持 0~30℃/min 可調升降溫速率，可程序段控溫，電流調節響應速度達毫秒級。
光學兼容性強
開放式光路無遮擋，窗口材質可按觀測波段定制更換，適配多種光學測試場景。
適配性廣
樣品臺尺寸、腔室類型、視窗規格可定制，可與顯微鏡、光譜儀等光學設備聯用，體積小巧無機械振動，適合受限環境。
操作便捷環保
配備智能化溫控軟件，支持遠程操控與數據導出，無需液氮、氟利昂等制冷劑。
可拓展性強
載樣臺可自由組合成多工位溫控模組，滿足高通量測試需求。
參數規格
溫度范圍：-40℃~150℃
溫度穩定性：±0.1℃
升溫速率：0~30℃/min (可調)
降溫速率：0~30℃/min (可調)
光路：反射/ 透射 (可選配)
透射光路直徑：Φ2mm (可選配)
公司介紹
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd.
