產品詳情
簡單介紹：
表面電位衰減測試系統(tǒng)是一款面向材料電學特性研究的高準度、多功能分析設備，為評估介質材料表面電荷動態(tài)衰減行為及陷阱能級分布而設計
詳情介紹：
電容器薄膜陷阱能級電位衰減儀
源頭工廠支持定制，更多詳情歡迎咨詢
產品優(yōu)勢高壓極化與準確控制
支持±30 kV寬范圍高壓輸出，負載調整率≤0.5%，穩(wěn)定性≤0.1%/h，確保極化過程穩(wěn)定可靠
高精度控溫加熱臺（室溫~160℃，±0.2℃），結合濕度可調電極箱體，滿足復雜環(huán)境模擬需求
高靈敏測量與快速響應
電位測量范圍達±10 kV，精度1 V，采集頻率＞1次/秒，搭配5~20 ms高速響應，準確捕捉瞬態(tài)電位變化
配備采集卡與中文分析軟件，自動提取陷阱分布參數(shù)，一鍵生成衰減曲線及分析報告
靈活電極配置與集成化設計
提供銀/黃銅材質針、柵、板電極，電極間隙0~100 mm動態(tài)可調，適配不同樣品形態(tài)與測試場景
集成化電極箱體整合加熱臺、支架及濕度模塊，大幅提升實驗效率與重復性
高穩(wěn)定性與防護性
電壓調整率≤0.1%，溫度系數(shù)≤0.1%/℃，確保長時間測試數(shù)據一致性；輸出電流限定≤1 mA，符合高壓操作防護標準
參數(shù)規(guī)格
溫度系數(shù)：≤ 0.1 %/℃
測量范圍：0 ~ ±10 kV
穩(wěn)定性：時間漂移<100 ppm/小時（非累積）；溫度漂移<200 ppm/℃
極化電極：針、柵、板電極
電極材質：銀或黃銅
公司介紹
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd.
